| Body na spoluautora | Body za publikaci pro MU | Odkaz ISVaV | | 0,52 | 3,12 | Měření mechanického napětí v tenkých vrstvách pomocí kombinované optické metody
|
| 10,18 | 30,55 | Optical characterization of double layers containing epitaxial ZnSe and ZnTe films
|
| 9,71 | 38,84 | Comparison of dispersion models in the optical characterization of As-S chalcogenide thin films
|
Back
(c) Michal Bulant, 2011